Beszámoló a CIE XXIV. kongresszusáról

 

A CIE négy évente megrendezésre kerülõ konferenciájára, ezúttal a huszonnegyedikre Varsóban került sor ez év júniusának utolsó hetében. A szokásoknak megfelelõen a konferenciához kapcsolódóan a technikai bizottságok egy része, valamint az adminisztratív testületek is üléseztek. Adminisztratív szempontból lényeges változás történt, három új CIE tagsági forma:

került bevezetésre.

 

Az elsõ két forma általában a fejlõdõ országokat illetve egyéni tagjaikat támogatja a CIE sokrétû tevékenységének megismerése során segítve a beilleszkedést. A társult tag szavazati jog nélkül vehet részt a szervezet munkájában. Ezen tagság elõnyeit maximálisan nyolc évig, azaz két CIE konferencián keresztül élvezheti a tag ezután vagy vállalja a rendes tagság kötelezettségeit és élhet az ezzel járó jogokkal vagy tagságát meg kell szüntetnie.

 

A támogató szervezet lehet szabványügyi, oktatási, kormányzati intézmény vagy vállalat, nemzetközi szervezet, stb. lényegileg szervezeti megkötöttség nélkül. Ezen tagsági forma négy szintje közül lehet választani az alaptól (basic) kezdõdõen – amely csak a releváns , nem technikai információhoz való hozzáférést biztosítja – egészen a gyémánt támogatóig (diamond supportive member). Ez utóbbi jogosult bármely CIE publikációból használatra tetszõleges számú másolatot készíteni, bizonyos korlátozásokkal még külsõ célra is felhasználhatja a publikációk részleteit, továbbá évente négy oldalt biztosίtanak számára a CIE News-ban. A támogató tag szintenként különbözõ logo viselésére jogosult.

 

A háromnapos konferencián a CIE egész területét lefedõ elõadásokat hallhattunk, melyek a plenáris elõadások kivételével több párhuzamos szekcióban folytak. Az elõadásokat poszter szekciók egészítették ki. Szakmai szempontból az új osztály (Képfeldolgozás – Image technology) bemutatkozása jelentett lényeges elõrelépést, az osztály meghí vott elõadással mutatkozott be közvetlenül a megnyitót követõ plenáris ülésen. Todd Newman (USA), az osztály elnöke vázolta, hogy a monitorok színkezelésére (colour management) kialakított szabványok gyakran egymásnak ellentmondóak, nem konzisztensek. Ezek a szabványok esetlegesen egy-egy alkalmazási részterület igényeit lefedik ugyan, de kijelenthetõ, hogy nem a teljesség igényével készültek. Hangsúlyozta, hogy a CIE feladata éppen az egységesítés, a konzisztencia kialakí tása lehet a képfeldolgozás színkezelése, a színkezelés szervezésének kidolgozása és a színes képi információ továbbítása területén. Az új osztály, támaszkodva az 1. és 2. osztály munkájára a szabványosítás szempontjából átfogó rendezést kíván végrehajtani a fenti területeken.

 

Jelen beszámoló szerzõje szakmailag elsõsorban a 2. osztály munkájában érdekelt, ezért a továbbiakban a beszámoló a teljesség igénye nélkül ezen területre szorítkozik.

 

Yoshi Ohno (USA) az NIST-ben, az USA nemzeti mérésügyi laboratóriumában megvalósított, jelenleg már a rutin mérések során is alkalmazott detektor alapú integráló gömbös fotometriáról tartott elõadást. Az eljárás lényeges újítása, hogy a fényáram mérése során nem alkalmaz fényáram etalon lámpát hanem helyette egy kalibrált fotométert és egy külsõ fényforrást. A fényforrás által biztosított megvilágítást méri a gömb belépõ nyílásánál, amibõl ismeri a gömbbe juttatott fényáramot, továbbá ezen fényáram által keltett megvilágítást méri a gömb kilépõ nyílásánál. Ez a mérés szolgál a gömb kalibrálására úgy, hogy a mérendõ fényforrás már a gömbben van, azaz az önabszorpciót is figyelembe veszi. Második lépésként a mérendõ fényforrást kapcsolja be és méri annak fényáramát. A végsõ fényáram meghatározásánál korrekciókat vesz figyelembe a gömb inhomogenitásának, spektr ális reflexiójának stb. kompenzálására. Ezen eljárás bevezetésével lényegesen javult a mérési pontosság, hiszen a kalibrációs láncból a fényáram etalonok kalibrálása kiesik. Az eljárás további elõnye, hogy a gömbben, bizonyos korlátozásokkal tetszõleges mé retû és formájú lámpa mérhetõ, függetlenül a külsõ fényforrás alakjától.

 

Integráló gömbnél maradva, a következõ elõadásban John Clare (Új-Zéland) analitikus megoldást mutatott sík felületû be- illetve kilépõ nyílást alkalmazó gömbben kialakuló megvilágítás meghatározására. Az integrálegyenlet numerikus megoldásánál peremfeltételként a sík felület homogén megvilágítását vette fel.

 

Két elõadást hallhattunk a candela realizálásáról, az egyiket Dél-Afrikából szobahõmérsékletû abszolút detektort használva M. Budzinski elõadásában, a másikat Franciaországból cryogenikus detektort alkalmazva. Mindkét esetben az abszolút detektorok a fotométerek kalibrálására szolgálnak. Ezek az elõadások is a detektor alapú kalibrálás egyre szélesebb körû elterjedésére utalnak.

 

Új goniofotométerekrõl három elõadás is elhangzott (Anglia, Dél-Afrika, Németország), az elsõ kettõ nemzeti mérésügyi laboratóriumból a lumen realizálására - szintén detektor alapon - a harmadik ipari célokra.

 

Terjedelmi okokból az összes elõadás bemutatására nincsen lehetõség, nem is lehet célja ezen beszámolónak a konferencia-kiadvány helyettesí tése, de érdemes még a 2. osztálynál maradva, annak néhány tématerületét címszavakban kiemelni, melyek nagy érdeklõdést váltottak ki:

 

A résztvevõk száma ugyan kis mértékben elmaradt az utóbbi években rendezett CIE konferenciákétól, talán a magasabb részvételi díj miatt, de a konferencia szakmai színvonalát és sokszínûségét ez nem befolyásolta. A lengyel rendezõk, Dr. Grzonkowski vezetésével minden lehetõt, sõt néha a lehetetlennek látszót is megtették a konferencia zökkenõmentes lebonyolítása érdekében, és ami ennél is fontosabb, igyekezetüket siker koronázta.

 

Dr. Makai János

 

U.i.: A konferencia elõadásait tartalmazó kötet és CD-ROM a CIE Központi Titkárságán beszerezhetõ.